{{ sigdata.reliabtittwo }}

項目 要求 測試方法

高溫儲存試驗

參考文件:

GB/T 2423.2-2008 Method Bb

1.無明顯的外觀缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (Only SMD series)

4.ΔDCR/DCR≦10%

溫度: N±2℃ (N:依據產品規格設定)

時間: 96±2 小時

樣品在室溫下放置1小時,不超2小時必須測試.

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低溫儲存試驗

參考文件:

GB/T 2423.1-2008 Method Ab

1.無明顯的外觀缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (Only SMD series)

4.ΔDCR/DCR≦10%

溫度: M±2℃ (M:依據產品規格設定)

時間: 96±2 小時

樣品在室溫下放置1小時,不超2小時必須測試.

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恒定濕熱試驗

參考文件:

GB/T 2423.3-2016

1.無明顯的外觀缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (SMD series only)

4.ΔDCR/DCR≦10%

温度:40±2℃ , 溼度: 93±3%RH

時間 : 96±2 hours

樣品在室溫下放置1小時,不超2小時間必須測試.

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冷熱衝擊試驗

參考文件:

GB/T 2423.22-2012 Method Na

1.無明顯的外觀缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (SMD series only)

4.ΔDCR/DCR≦10%

T: 15Min if weight≦28g M: low temp. setting

T: 30Min if 28g≦weight≦136g N: high temp. setting

從M℃作用T分鐘,然後溫度衝擊到N℃作用T分鐘,作為一個循環,共作用20次.

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焊錫性測試

參考文件:

GB/T 2423.28-2005 Method Ta

端子必須有95%以上均勻著錫.

1.端子浸入助焊劑, 然後浸入245±5℃錫爐中5秒.

2.焊料 :無鉛焊料

3.助焊劑: 松香助焊劑

耐焊接熱試驗

參考文件:

GJB 360B-2009 Method 210

1.無明顯的外觀缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (SMD series only)

4.ΔDCR/DCR≦10%

1.參照上圖回流焊曲線過2次.

2.峰值溫度為: 260+0/-5℃

3.迴流焊溫度條件是根據我司設備制定的

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振動試驗(正弦)

參考文件:

GB/T 2423.10-2019

1.無明顯的外觀缺陷.

2.無短路開路異常.

用10~55~10Hz 振動頻率,振幅1.5mm,振動周期為1min/cycle.沿X,Y,Z方向各振動2小時.(共6小時)

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端子強度(SMT)

參考文件:

GB/T 2423.60-2008

1. HPI / SMD(V) / SMB / SMI / SMW 系列: 施加力:5N 持續時間:10秒

2.除上述系列以外的其他SMT系列: 施加力:10N 持續時間:10秒

3.錫膏厚度:0.12毫米

4.端子不發生鬆脫并滿足上述要求.

測試樣品過245℃的迴流焊上PCB板,施加一個力到測試器件的側面,這個力應持續10秒。

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端子強度(DIP)

參考文件:

GB/T 2423.60-2008

1. 引出端直径(d) mm 0.35<d≤0.50

施加力:5N 持續時間:10秒

2. 引出端直径(d) mm 0.50<d≤0.80

施加力:10N 持續時間:10秒

3. 引出端直径(d) mm 0.80<d≤1.25

施加力:20N 持續時間:10秒

4. 引出端直径(d) mm d>1.25

施加力:40N 持續時間:10秒

5.端子不發生鬆脫并滿足上述要求.

拉力:拉力逐漸到最大值維持10秒.

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落下試驗

參考文件:

GB/T 2423.7-2018

1.無明顯的外觀缺陷.

2.無短路開路異常.

將產品包裝後從1米高度自然落下至試驗板上1角3棱6面各跌落两次.