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项目 要求 测试方法

高温储存试验

参考文件:

GB/T 2423.2-2008 Method Bb

1.无明显的外观缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (Only SMD series)

4.ΔDCR/DCR≦10%

温度: N±2℃ (N:依据产品规格设定)

时间: 96±2 小时

样品在室温下放置1小时,不超2小时必须测试.

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低温储存试验

参考文件:

GB/T 2423.1-2008 Method Ab

1.无明显的外观缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (Only SMD series)

4.ΔDCR/DCR≦10%

温度: M±2℃ (M:依据产品规格设定)

时间: 96±2 小时

样品在室温下放置1小时,不超2小时必须测试.

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恒定湿热试验

参考文件:

GB/T 2423.3-2016

1.无明显的外观缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (SMD series only)

4.ΔDCR/DCR≦10%

温度:40±2℃ , 湿度: 93±3%RH

时间 : 96±2 hours

样品在室温下放置1小时,不超2小时间必须测试.

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冷热冲击试验

参考文件:

GB/T 2423.22-2012 Method Na

1.无明显的外观缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (SMD series only)

4.ΔDCR/DCR≦10%

T: 15Min if weight≦28g M: low temp. setting

T: 30Min if 28g≦weight≦136g N: high temp. setting

从M℃作用T分钟,然后温度冲击到N℃作用T分钟,作为一个循環,共作用20次.

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焊锡性测试

参考文件:

GB/T 2423.28-2005 Method Ta

端子必须有95%以上均勻着锡.

1.端子浸入助焊剂, 然后浸入245±5℃锡炉中5秒.

2.焊料 :无铅焊料

3.助焊剂: 松香助焊剂

耐焊接热试验

参考文件:

GJB 360B-2009 Method 210

1.无明显的外观缺陷.

2.ΔL/L≦10% (Mn-Zn: ΔL/L≦30% )

3.ΔQ/Q≦30% (SMD series only)

4.ΔDCR/DCR≦10%

1.参照上图回流焊曲线过2次.

2.峰值温度为: 260+0/-5℃

3.回流焊温度条件是根据我司设備制定的

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振动试验(正弦)

参考文件:

GB/T 2423.10-2019

1.无明显的外观缺陷.

2.无短路开路异常.

用10~55~10Hz 振动频率,振幅1.5mm,振动周期为1min/cycle.沿X,Y,Z方向各振动2小时.(共6小时)

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端子強度(SMT)

参考文件:

GB/T 2423.60-2008

1. HPI / SMD(V) / SMB / SMI / SMW 系列: 施加力:5N 持续时间:10秒

2.除上述系列以外的其他SMT系列: 施加力:10N 持续时间:10秒

3.锡膏厚度:0.12毫米

4.端子不发生松脫并满足上述要求.

测试样品过245℃的回流焊上PCB板,施加一个力到测试器件的侧面,这个力应持续10秒。

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端子強度(DIP)

参考文件:

GB/T 2423.60-2008

1. 引出端直径(d) mm 0.35<d≤0.50

施加力:5N 持续时间:10秒

2. 引出端直径(d) mm 0.50<d≤0.80

施加力:10N 持续时间:10秒

3. 引出端直径(d) mm 0.80<d≤1.25

施加力:20N 持续时间:10秒

4. 引出端直径(d) mm d>1.25

施加力:40N 持续时间:10秒

5.端子不发生松脫并满足上述要求.

拉力:拉力逐渐到最大值维持10秒.

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落下试验

参考文件:

GB/T 2423.7-2018

1.无明显的外观缺陷.

2.无短路开路异常.

将产品包裝后从1米高度自然落下至试验板上1角3棱6面各跌落两次.